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Sections => Discussion et Suivi sur les Vidéos d'Électro-Bidouilleur => Discussion démarrée par: jo13 le Décembre 07, 2016, 07:05:19 pm

Titre: EB_#111 Banc d'Essai: Le Testeur de composant LCR-T4
Posté par: jo13 le Décembre 07, 2016, 07:05:19 pm
Bonjour,
Je reviens sur cette vidéo pour poser une question de Bidouilleur débutant.
J'aimerai savoir si cela existe, un testeur de composant qui permettrait de faire des tests directement sur une carte mère ou un PCB quelconque?

 Merci d'avance pour toute réponses
Titre: Re : EB_#111 Banc d'Essai: Le Testeur de composant LCR-T4
Posté par: F4HCO le Décembre 07, 2016, 09:20:55 pm
Bonjour,

Tout dépend quel genre de test vous souhaitez réaliser.

Bonne bricole.

Titre: Re : EB_#111 Banc d'Essai: Le Testeur de composant LCR-T4
Posté par: Électro-Bidouilleur le Décembre 07, 2016, 09:43:41 pm
Bonjour,

Votre question est bien valide. Et vous n'êtes pas le seul à  la demander.  On parle ici d'un PCB non-alimenté. La réponse est oui, il est possible de faire ce genre de mesures, mais pas partout dans un circuit. Car les résultats ne sont pas toujours fiables. Il y a plusieurs conditions qui font que le test peut être perturbé lorsque effectué "en circuit". Imaginez une résistance trop basse (un court-circuit, ou presqu'un court-circuit) aux bornes d'un composant. Ou bien imaginez un condensateur à  capacité très élevée tout près sur le composant à  tester. Il y aura un long courant de charge induit par l'équipement de mesure, et donc la résistance apparente variera constamment.

Souvent, un simple multimètre suffit. Mais les résultats ne sont pas toujours bons. Il existe des testeurs de composants annoncés comme "en circuit". Les résultats sont mieux, mais pas parfaits. Il y a les testeur de ESR qui peuvent aider avec les condensateurs. Et y a les "Octopus", comme décrits dans ma vidéo #87 https://www.youtube.com/watch?v=ibTA8eOkMRw&t=1s .

Le message est qu'il n'existe pas de testeur universel. Il faut utiliser une combinaison de ceux-ci, et des techniques de mesure diverses pour arriver à  quelque chose de bien. Et parfois c'est juste impossible, et il faut extraire le composant.
Titre: Re : EB_#111 Banc d'Essai: Le Testeur de composant LCR-T4
Posté par: jo13 le Décembre 08, 2016, 11:02:34 am
Bonjour

Citer
Le message est qu'il n'existe pas de testeur universel. Il faut utiliser une combinaison de ceux-ci, et des techniques de mesure diverses pour arriver à  quelque chose de bien. Et parfois c'est juste impossible, et il faut extraire le composant.

Ok  cela m'éclaire , je dois donc encore investir dans du matos de mesure .  8)

En tout cas merci pour le travail que vous faites

Titre: Re : EB_#111 Banc d'Essai: Le Testeur de composant LCR-T4
Posté par: oer23 le Mars 01, 2024, 10:21:38 pm
Je sais que le sujet est vieux mais je pose quand même la question.
J'ai à peu près le même testeur (version T6) avec une version plus récente du firmware qui permet de tester entre autres les zener, triac...
Il fait le taf plutôt correctement, mais j'ai un souci avec les JFET. En effet quand je les tests les résultats de voltage/ampérage correspondent plus ou moins aux datasheet, mais par contre la nomenclature des pins est parfois fausse.
La pin G (gate) semble toujours juste, par contre les pins D (drain) et S (source) sont définies de manière "aléatoire", même si parfois elles tombent juste.
J'ai eu ce problème avec des 2SK30, des J201, des BF245.
Pensant mon testeur défectueux/vieux, j'en ai récupéré un plus récent et là il ne notait même plus les pins en dehors de la "gate".
Est-ce dû au firmware ou simplement au fonctionnement d'un JFET? Sachant que j'ai lu sur certains forums que des personnes avait eu du mal à définir les pins sur des FET sans datasheet.
Merci d'avance pour la/les réponses. Je précise que c'est plus par curiosité qu'autre chose.
Titre: Re : EB_#111 Banc d'Essai: Le Testeur de composant LCR-T4
Posté par: papyblue le Mars 02, 2024, 11:57:33 am
Bonjour,
Si on construit un FET parfaitement symétrique le choix DRAIN et SOURCE est totalement arbitraire. Il est normal que quand un transistor se rapproche de ce cas là qu'il soit impossible de différentier les broches.
Titre: Re : EB_#111 Banc d'Essai: Le Testeur de composant LCR-T4
Posté par: loulou31 le Mars 02, 2024, 03:59:28 pm
Bonjour,
Oui Papybue a bien expliqué le phénomène. Il en est de même pour les MOSFET a grille isolée, mais dans la très grande majorité des cas le substrat est relié au drain ce qui permet de l'identifier.


Jean-Louis
Titre: Re : EB_#111 Banc d'Essai: Le Testeur de composant LCR-T4
Posté par: oer23 le Mars 06, 2024, 05:36:13 pm
Ça veut dire que sur un montage électronique on peut intervertir les pins D et S sans que cela gène le fonctionnement?